ESD-靜電對IC等元器件的影響
2022-06-02 20:02:02
admin
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元件充電模型是指IC本身先因摩擦或其它因素而在IC內部累積了靜電，但在靜電累積的過程中IC并未損傷。在處理此IC的過程中，IC的pin腳觸碰到了地，IC內部的靜電便經由IC內部的pin腳流出來，而造成了放電現象。造成短路不良。
此種模式的放電時間更短，僅約為幾ns，而且放電現象更難以被真實的模擬。因為IC內部積累的靜電會因IC內部的等效電容的不同而改變
